Веб додаток для вимірювання з високою точністю вольтамперних характеристик

Автор(и)

  • Олександр Івон
  • Валерій Істушкін
  • Юрій Рибка

DOI:

https://doi.org/10.34185/1562-9945-2-133-2021-03

Ключові слова:

web application, digital image, voltage-ampere characteristic, impulse test, analog oscillogram

Анотація

Описано прикладний веб-додаток, який дозволяє шляхом сканування цифрових зо-бражень аналогових осцилограм імпульсів напруги і струму вимірювати з високою то-чністю вольтамперні характеристики (ВАХ) напівпровідникових матеріалів в області сильних електричних струмів. Цифрові зображення отримують шляхом фотографу-вання осцилограм імпульсів напруги і струму з екрану двопроменевого аналогового за-пам’ятовуючого осцилографа при дії на зразок досліджуваного матеріалу поодинокого експоненціального імпульсу напруги. Розгортка напруги експоненціальним імпульсом дає можливість виміряти ділянку ВАХ і при зміні амплітуди імпульсу забезпечує вимі-рювання в широкому діапазоні електричних струмів.
Завдяки високій роздільній здатності цифрової фотокамери і абсолютній похибці сканування 1 піксель, забезпечується висока точність вимірювання миттєвих значень напруг і струмів з відносною похибкою не більше 1 %. Сканування відбувається шляхом клацання лівою клавішею миші в обраній точці цифрового зображення. При обробці цифрових зображень забезпечується візуалізація точок, де було виконано сканування і можливість корегування даних сканування.
Програма реалізована засобами мов HTML, CSS, JavaScript і технології Canvas. Програмним середовищем для її виконання є браузери мережі Інтернет.

Посилання

Ivon A.I. Grain resistivity in zinc oxide and tin dioxide varistor ceramics / A.I. Ivon A.B. Glot, R.I. Lavrov, Zhen-Ya Lu // Journal of Alloys and Compounds.‒2014, ‒V.616.‒p. 372–377.

Ivon A.I. Digitization of oscillograms by raster images for rising of accuracy at signal pa-rameters determination / Ivon A.I., Istushkin V.F. // System technologies.‒2017.‒ issue 1 (108).‒ p. 37-40.

Ivon A.I. Processing of the digital images of analogous occillograms at pulsed measure-ments / Ivon A.I., Istushkin V.F., RybkaYu.M., Savran S.V. // System technologies.‒2020.‒ issue 1 (126).‒ p. 54-65.

Завантаження

Опубліковано

2021-03-01

Номер

Том 2 № 133 (2021): Системні технології

Розділ

Статьи

Ліцензія

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International License.