АВТОМАТИЗОВАНІ СИСТЕМИ КОНТРОЛЮ ГЕОМЕТРИЧНИХ ПАРАМЕТРІВ ДЕТАЛЕЙ НА БАЗІ КООРДИНАТНО-ВИМІРЮВАЛЬНИХ ТЕХНОЛОГІЙ
DOI:
https://doi.org/10.34185/1562-9945-2-157-2025-12Ключові слова:
координатно-вимірювальні машини, автоматизований контроль, геометричні параметри, метрологічне забезпечення, цифрове виробництво, Індустрія 4.0, багатосенсорні системи, невизначеність вимірювань, метрологія.Анотація
У статті досліджено проблему систематичних похибок координатно-вимірювальних машин, які суттєво впливають на точність контролю геометричних параметрів деталей. Актуальність роботи зумовлена зростаючими вимогами до точності вимірювань у сучасному виробництві. Задачею є розроблення математичної моделі систематичних похибок та алгоритму їх автоматизованої компенсації. Методика базується на багатофакторному аналізі похибок з урахуванням геометричних, те-мпературних та динамічних впливів. Запропоновано адаптивний алгоритм корекції, що дозволяє знизити систематичні відхилення та підвищити метрологічну достовірність вимірювань.
Посилання
Balsamo, A., & De Chiffre, L. (2020). Recent Advances in Coordinate Metrology. CIRP Annals, 69(2), 766–787.
Hocken, R.J., & Pereira, P.H. (2016). Coordinate Measuring Machines and Systems. CRC Press, 592 p.
ISO 15530-3:2011. Geometrical product specifications (GPS) — Coordinate measuring machines (CMM): Technique for determining the uncertainty of measurement — Part 3: Use of calibrated workpieces or measurement standards. Geneva: ISO, 2011.
Jiang, X., Scott, P.J., & Whitehouse, D.J. (2017). Paradigm shifts in surface metrology. Part II. The current shift. Proceedings of the Royal Society A, 473(2199), 20160495.
Muratov, M., Weckenmann, A., et al. (2022). Machine Learning in Coordinate Metrology: State of the Art and Perspectives. Journal of Manufacturing Processes, 73, 695–713.
Weckenmann, A., Estler, T., Peggs, G., & McMurtry, D. (2009). Probing systems in dimensional metrology. CIRP Annals, 58(2), 706–733.
Savio, E., De Chiffre, L., Carmignato, S. (2019). Metrology of freeform shaped parts by contact and optical coordinate measuring machines. CIRP Annals, 68(2), 745–768.
Savio, E., De Chiffre, L., Carmignato, S., & Schwenke, H. (2020). Trends in freeform coordinate metrology. CIRP Annals, 69(2), 677–698.
Schwenke, H., Neuschaefer-Rube, U., Pfeifer, T., Kunzmann, H. (2002). Optical Methods for Dimensional Metrology in Production Engineering. CIRP Annals, 51(2), 685–699.
Завантаження
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2025 Системні технології

Ця робота ліцензується відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International License.